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    顯微鏡
    M-60D 明、暗場、偏光正置金相顯微鏡系研究級金相顯微鏡,涵蓋明場、暗場、偏光等觀察方式。適用于工礦企業、高等院校及科研等機構作材料內部組織結構分析和材料處理后表面結構的研究分析等工作。

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    M-30MR金相顯微鏡能提供優越的圖像質量和穩固可靠的機械結構;操作簡便,附件齊全,廣泛應用于教學科研金相分析、半導體硅晶片檢測、地址礦物分析、精密工程測量等領域。

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    正置金相顯微鏡,觀察面向上,適宜于尋找特定或廣域范圍內表面目標的觀察研究和分析。廣泛應用于電子行業IT、PCB和微顆粒、線材、纖維、表面噴涂等,及材料金相組織結構的檢測、研究和分析等工作。廣泛應用在工廠、實驗室和教學及科研領域。

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    體視顯微鏡和數碼攝像機相連,顯微圖象可實現高分辨率數值化。

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    該顯微鏡采用半復消色差物鏡、無限遠色差校正光學系統。

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    M-5XC倒置金相顯微鏡是一款經濟實用型顯微鏡,其性價比高,在國內、外得到廣泛的應用。

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    M-4XC倒置金相顯微鏡物鏡距樣品距離長,鏡頭轉換方便,顯微鏡最大放大倍數可達1000倍,并可進行偏光觀察;顯微鏡可和數碼攝像機相連,顯微鏡的圖象可實現高分辨率數值化。

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    M-20D現場金相顯微鏡是用于現場多種大型工件的金相檢查、失效分析的顯微鏡。它不用切割取樣,直接在工件上打磨、拋光,從而保證工件的完整性。

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